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貼片電容壽命測試方法與檢測指標

貼片電容的壽命有兩層含義，其一是老化壽命，其二是使用壽命。
貼片電容的老化壽命一般沒有多大實際意義。一顆電容即便生產出來很多年，也一樣可以正常使用。這個和晶振不太一樣。當然如果倉儲環(huán)境達不足，出廠時間久的貼片電容端電極有可能老化，導致焊接性能下降。因此原則應該購買出廠一年以內的產品。

風華高科對貼片電容的使用壽命一般采用如下方式進行測試：
貼片電容
1、測試方法
1.1 、低壓貼片電容（≤100V）
電壓：1.5 倍額定工作電壓
時間：1000 小時
溫度：125℃（NPO、X7R） 85℃（X5R、 Y5V）
充電電流：不應超過50mA
放置條件：室溫
放置時間：24 小時（Ⅰ類），或48 小時（Ⅱ類），

1.2、中高壓貼片電容：
100V≤額定電壓＜500V：2 倍工作電壓
500V≤額定電壓≤1000V：1.5 倍工作電壓
額定電壓＞1000V：1.2 倍工作電壓
時間：1000 小時
充電電流：不應超過50mA
溫度：125℃（NPO X7R）；85℃（X5R、Y5V）
放置條件：室溫
放置時間：24 小時（Ⅰ類），或48小時（Ⅱ類）
 
2、測試標準：
ΔC/C
Ⅰ類：≤±2%或±1pF 取兩者之中較大者
Ⅱ類：B,X: ≤±20% ；E,F: ≤±30%

ΔC/C：
Ⅰ類：≤±2%或±1pF取兩者之中較大者
Ⅱ類：B,X: ≤±20%；E,F: ≤±30%
DF：
≤2 倍初始標準

IR
Ⅰ類：Ri≥4000MΩ或 Ri• CR≥40S 取兩者之中較小者.
Ⅱ類：Ri≥2000MΩ或 Ri• CR≥50S 取兩者之中較小者.

外觀
無損傷

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